A technique used to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and then analyzing the ejected secondary ions.

एक तकनीक जिसका उपयोग ठोस सतहों और पतली फिल्मों की संरचना का विश्लेषण करने के लिए किया जाता है, जिसमें एक केंद्रित प्राथमिक आयन बीम के साथ नमूने की सतह को स्पटरिंग करके और फिर निकाले गए द्वितीयक आयनों का विश्लेषण किया जाता है।

English Usage: The laboratory uses secondary ion mass spectroscopy to examine the composition of various materials.

Hindi Usage: प्रयोगशाला विभिन्न सामग्रियों की संरचना की जाँच के लिए द्वितीयक आयन द्रव्यमान स्पेक्ट्रोस्कोपी का उपयोग करती है।